紫外光度計(jì)的波長定位方法及自檢過程

更新時(shí)間：2023-06-20 點(diǎn)擊次數(shù)：2495

    1.分光光度計(jì)定位波長的方法

    通常，分光光度計(jì)確定波長都采用如下兩種方法：

    （1）零級(jí)光查找法，該法是利用光譜帶上零級(jí)光處波長等于零，而能量zui大這一特點(diǎn)實(shí)現(xiàn)的。該方法的特點(diǎn)是簡單，可適用于可見分光光度計(jì)，也可適用于紫外可見分光光度計(jì)，缺點(diǎn)是由此法確定的波長精度不高，重復(fù)性也不好，譜元低檔儀器用此法，如1102，1500,1502等；

    （2）氘燈能量譜線查找法，該法是利用氘燈點(diǎn)亮后其固有的能量譜線（656.1nm）來確定波長的。從氘燈能量分布圖中看出，在可見光的656.1nm處,氘燈有一個(gè)脈沖式的能量峰出現(xiàn)，光度計(jì)在開機(jī)以后，先找到該處的能量zui大值，確定此點(diǎn)為656.1nm。該方法的特點(diǎn)是簡單，所確定波長準(zhǔn)確，重復(fù)性也很好。但只能用于紫外可見分光光度計(jì)，而不能用于可分光光度計(jì)。上海譜元的中儀器均用此法確定波長。如1506,18系列19系見列等；

    2.分光光度計(jì)的自檢過程，儀器在自檢過程中通常要完成以下自檢項(xiàng)目：A燈源檢查；B濾色片檢查；C自動(dòng)樣品架檢查（若有安裝的話）；D數(shù)據(jù)通訊口檢查；E定波長；F能量檢查等。

    （注意，所有機(jī)型在自檢過程中，樣品室中均不得放任何樣品或參比液，也不能將樣品室打開）

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紫外光度計(jì)的波長定位方法及自檢過程